표준연, 반도체 깊은 곳 결함까지 꿰뚫어보는 현미경 개발

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표준연 이은성(사진 뒤편) 책임연구원이 광유도력 현미경으로 시료의 내부 구조를 측정하고 있다. 사진제공=한국표준과학연구원

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