표준연, 국산 측정장비로 반도체 난제 해결 성공

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KRISS 나노구조측정센터 김경중(사진 왼쪽) 책임연구원이 케이맥 연구팀과 초박막 두께측정을 위한 시편을 로딩하고 있다. 사진제공=KRISS

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