한국과학기술원(KAIST) 전기·전자공학과 조병진 교수 연구팀은 금속 전극을 그래핀으로 대체하면 기존의 플래시 메모리 소자의 성능과 신뢰도가 획기적으로 개선된다는 사실을 규명했다고 21일 밝혔다.
이번 연구성과는 그래핀이 먼 미래의 반도체 소자가 아닌 현재 양산중인 반도체 소자에도 바로 활용할 수 있는 소재인 점을 증명한 첫 사례라는 점에서 그 의미가 크다.
연구팀은 현재 국내외 기업들이 집중적으로 개발하고 있는 전하포획방식의 플래시 메모리 소자에 그래핀 전극을 사용하면 데이터 보존 특성이 기존 소자에 비해 1만배 이상 바로 시판할 수 있는 성능으로 개선된다고 설명했다.
또 데이터 작성과 삭제 간의 전압차이가 70%나 개선되는 등 20나노미터 이하의 플래시 메모리 소자의 상용화에 가장 큰 기술적 장벽을 극복할 수 있다는 것을 증명했다.
조병진 교수는 “이번 연구결과는 그래핀이 먼 미래만의 소재가 아닌 지금 또는 바로 다음 세대 반도체 핵심 소자에 즉시 적용될 수 있음을 보여주는 첫 사례”라며 “이를 응용해면 향후 자동차 전자제어장치, 군사용 및 의료 시스템 등 폭넓게 활용될 수 있을 것”이라고 말했다.
이번 연구결과는 나노과학 분야의 권위 있는 학술지인 ‘나노 레터스’지 온라인 속보로 게재됐다.
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