국내에서 개발된 나노측정기술이 국제표준 기술로 채택돼 세계 나노기술 기반 확립을 주도해 나갈 계기를 마련했다.
한국기계연구원은 국제전기기술위원회(IEC)가 이학주 박사팀이 개발한 나노측정기술 ‘띠굽힘시험법’을 미세전자기계시스템(MEMS) 분야 국제표준으로 선정하고, 사전 공표했다고 31일 밝혔다.
IEC 국제표준명은 ‘띠굽힘 시험법을 이용한 박막의 인장물성 측정’으로, 오는 4월 책자로 발간된다.
나노측정기술은 나노 크기 소재의 기계적, 전자기적, 광학 물성 등을 측정하고 평가하는 기술로, 실제 제품 생산에 적용할 때 필수적이다.
이 박사팀이 개발한 띠굽힘시험법은 길이가 길고 두께가 얇은 마이크로·나노 구조물을 변형시키며 하중 등을 간편하고 정확하게 측정하는 방법으로, 측정 자동화는 물론 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있다.
이학주 박사는 “지금까지는 나노 구조물의 측정이 어려워 마이크로·나노 구조물 상용화에 걸림돌로 작용해왔다”며 “이번 국제표준 채택으로 우리나라가 13조 5천억원 규모의 세계 나노측정기술 산업을 주도하는 계기를 마련하게 됐다”고 밝혔다.
