갤럭시Z플립이 독일 IT매체 칩이 진행한 내구성 테스트를 받고 있다./사진제공=칩삼성전자(005930) 폴더블폰 갤럭시Z플립이 20만번을 접고 펼치는 ‘극한 실험’을 최종적으로 통과했다. 오히려 갤럭시Z플립을 테스트하던 레고 실험기기에서 중간에 문제가 발생하기도 했다.
독일 IT매체 칩은 9일(현지시간) “갤럭시Z플립이 20만번 목표를 달성했다”라며 “손상되지 않은 완벽한 기능을 증명했다”고 밝혔다.
앞서 칩은 지난 2일부터 갤럭시Z플립의 내구성 테스트를 진행했다. 레고 마인드 스톰 EV3 세트를 활용해 갤럭시Z플립을 접었다가 펼치는 과정을 반복했다. 테스트의 모든 과정은 영상으로 24시간 공개됐다.
갤럭시Z플립은 20만번을 접고 펼친 이후에도 멀쩡한 모습을 보였다. 칩은 “디스플레이, 터치 스크린과 폴딩 매커니즘이 계속 작동한다”고 밝혔다.
반면 레고로 만들어진 테스트 기기가 테스트 중간 두 차례 문제를 일으키기도 했다.
칩은 갤럭시Z플립의 내구성이 삼성전자의 첫 번째 폴더블폰 갤럭시 폴드보다 뛰어나다고 평가했다. 칩은 지난해 10월에도 갤럭시 폴드의 접기 테스트를 한 바 있다. 당시 갤럭시 폴드 역시 20만번 테스트를 통과했다.
반대로 최근 출시된 모토로라 폴더블폰 레이저의 경우 해외 IT매체 씨넷에서 진행한 접기 테스트에서 2만 7,000번 만에 문제가 발생했다. 레이저는 갤럭시Z플립처럼 위아래로 여닫는 클램셸(조개껍질) 형태 폴더블폰이다.
