삼성종합기술원(원장 림관)은 송세안박사팀이 러시아 PTI연구소와 공동으로 최근 산소부터 우라늄까지 거의 모든 원소에 대한 구조를 분석할 수 있는 X선 전자분광분석장치(XIEES)를 개발했다.이 장치는 물질에서 방출되는 전자나 X선을 검출하여 분광 범위(0.47∼41.6keV)가 지금까지 사용된 분석장치 가운데 가장 넓고, 1만분의 1㎜ 차원에서 제어할 수 있어 각종 물질을 정밀 분석하는데 편리하다.
또 1대로 X선 흡수·형광 X선 방출·X선 흡수 스펙트럼·전자 방출 스펙트럼·회절 스펙트럼·전반사 스펙트럼 등 10여가지의 다양한 실험을 할 수 있는 게 특징이다. 이에 따라 이 장치는 물질을 구성하는 특정 원자와 주변 원자 간의 상호 배열과 전자 구조를 분석할 수 있어 반도체·박막소자·촉매·단백질 등 각종 신소재 연구분야에 널리 이용될 것으로 보인다.
송박사팀은 이 장치와 관련된 6건의 특허를 국내외에 출원했으며 앞으로 국내 연구기관과 대학에서 활용할 수 있도록 할 방침이다.<허두영 기자>
