18일 특허청에 따르면 최근 5년(2011~2015년)간 이차방사선을 통한 재료분석 기술 국내 특허출원은 총 150건이며 2011년 10건에서 2015년 50건으로 매년 꾸준히 증가하고 있는 것으로 나타났다.
이차방사선을 통한 대표적인 재료분석 기술로는 ‘형광 X선을 이용한 분석 기술’과 ‘전자 혹은 이온빔을 이용한 분석 기술’이 있다. 두 종류의 기술은 최근 5년간 특허출원된 이차방사선 재료분석 기술의 88%(132건)를 차지했다.
출원인을 기준으로 조사했을 때 내국인의 특허출원이 61%(92건)로 외국인 대비 상대적으로 많은 것으로 나타났다.
특히 내국인 출원의 약 61%(92건 중 56건)가 기업에서 출원한 것으로 나타나 기업이 국내 이차방사선에 의한 재료분석 기술 연구를 주도하고 있는 것으로 조사됐다.
내국인 출원 중 특허출원 비중이 가장 높은 기업 특허출원은 2011년 대비 2015년에 10배나 증가한 것으로 나타났고 대학·공공(연)의 특허출원은 같은 기간에 2배가 조금 넘게 증가했다.
특허청 관계자는 “이차방사선에 의한 재료분석 기술에 대한 국내 연구자들의 활발한 특허 출원은 다양한 분야에서 문제를 규명하고 예측하는데 있어서 크게 공헌할 수 있을 것”이라며 “이차방사선에 의한 재료분석 기술의 발전을 추구하기 위해서는 꾸준한 기술개발과 더불어 전략적인 특허시장 선점이 필요하다”고 말했다.
