◇선정이유강 헌교수는 물질의 표면을 정확하게 분석할 수 있는 「세슘(CS) 빔을 이용한 표면산란법」이라는 새로운 표면분석법을 개발했다.
표면에서 일어나는 현상을 이해하는 것은 현대과학에서 매우 중요하다. 그러나 지금까지 개발된 표면분석법들은 표면을 파괴하는 등의 문제점이 있었다.
姜교수가 개발한 「CS+ 산란법」은 저에너지 이온인 세슘(CS) 이온을 이용해 이온-표면 충돌을 일으킨 뒤 표면에서 나오는 이온 형태의 반응생성물을 분석하는 표면분석법이다. 표면을 파괴하지 않는 이 분석법은 현재 여러 표면 연구에 적용되고 있다. 또 화학증착 공정의 개발과 제어, 반도체 미세소자 공정, 촉매 연구, 부식, 기능성 고분자 등에 활용될 가능성이 매우 높다.
姜교수는 표면 분석과 관련해 54편의 국내외 논문 발표와 69회의 학술 발표 를 수행했으며 미국과 국내에 특허를 신청해 놓고 있다.
◇심사위원 蔡永福 한국화학연구소 연구위원(위원장), 明孝喆 고등과학원 수학과 교수, 朴元勳 한국과학기술연구원장, 邊光浩 생명공학연구소 소장, 鄭明世 한국표준과학원 원장, 孫炳基 경북대 센서기술연구센터 소장, 孫宰翼 에너지연구소 선임연구부장, 李大雲 현대자동차 중앙연구소 부장, 李利衡 한양대 부총장, 李一恒 한국전자통신연구원 책임연구원, 金忠燮 과학기술연구원 책임연구원, 張性道 이수세라믹 고문, 權五甲 과학기술부 과학기술정책국장, 金鎭銅 서울경제신문 논설위원
